Кстати, интересно, не меняются ли такие прарметры кластера, как К_подавления пульсаций, К_стабилизации, если одна из микросхем окажется в режиме ограничения тока? Или, как пишет hamaha, этот режим, всё же, аварийный с вытекающими последствиями?

OlegFX писал(а) 25.06.2011 :: 15:31:58:

Довольно элементарные расуждения, которые я привёл в самом начале флейма, говорят о том, что несколько ухудшается лишь Кст.
При этом, реальное уменьшение Кст определяется лишь разбросом номинальных Uст кренок в кластере. Фактически, эти напряжения не выходят из коридора, заданного в ТУ, и ухудшение не превосходит заданного в ТУ.
С точки зрения внешней характеристики, плавно спадающая нагрузочная характеристика оказывается сегментированной, с плавными переходами между сегментами.
Ширина сегментации коридора - десяток-другой милливольт, что вообще то много уже изначальной трубки допуска.

То есть, наплевать и забыть на такое ухудшение.

Другие параметры не должны ухудшаться - для того нет видимых причин...

Цитата:
Этот режим - не аварийный! Он оговорён в ТУ и безопасен для кренки.
И даже при малом радиаторе кренки имеют внутреннюю тепловую защиту и не выходят из строя - они выключают нагрузку и остывают, включаясь снова после охлаждения корпуса.

Цитата:
Ну, в принципе - да, но из-за запаздывания (тепловой инерции) шансов выжечь транзистор, куда больше, чем кренку, у которой тепловая связь внутри кристалла.
Кроме того, кренка и в кластере защищена от плохого контакта с радиатором - в то в ремя, как транзистору плохой контакт смертелен по определению.

В общем, вы меня тут дополнительно убедили, что в диапазоне токов до 10 А кластер вне конкуренции